IC卡动态弯曲扭曲试验机技术参数

HY（IC)IC卡动态弯扭试验机技 术 参 数:

本仪器针对性IC卡在国标GB/T 16649.1，国标GB/T-17554.1-2006及ISO10373和ISO7816-1998国际标准等试验标准中的弯曲、扭矩的试验;符合以上标准。

产品用途：

   用于检测磁条卡，IC芯片卡，集成电路卡，等卡的弯曲和扭曲性能测试。

          夹具安装尺寸按照国家标准执行。

技术参数：

产品型号：HY(IC)

外形尺寸：L670 X W380 X H220

儀器重量：70kg

電 壓：AC220V±5%

功 率：35W

測試速度：彎曲 扭曲30r/min及0.5Hz

測試周期：1~9999次

扭曲度 ：±15°±1° 雙向d=86 mm

正反向各15°，总扭曲角度30°

长边大位移量为20mm(+0.00mm,-1 mm)

长边小位移量为2mm±0.50mm，

短边大位移量为10mm(+0.00mm,-1 mm)

长边小位移量为1mm±0.50mm，

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